原子力显微镜（AFM）
发布时间：2025-06-09
设备名称：原子力显微镜（AFM）
厂家型号：Bruker Dimension Edge?
工艺类别：测试
主要用途：适用于各种材料，包括导体、绝缘体、半导体等，能够提供样品表面的三维形貌图像，分辨率可达原子级别。它可以测量表面的粗糙度、颗粒度、孔径分布等参数。
技术指标：
1. 垂直本底噪声：在合适环境中小于50pm均方根值（典型成像带宽最高可达625Hz）
2. XY位置传感器噪声水平（闭环）：在典型成像带宽（最高可达625Hz）下小于0.5nm 均方根值
3. Z位置传感器噪声水平（闭环）：在典型成像带宽（最高可达625Hz）下小于0.2nm 均方根值
4. 样品尺寸：150mm真空吸盘，厚度≤15mm
收费标准：自带探针300元/小时；不自带探针350元/小时 (30分钟起约）
苏公网安备 32059002003194号