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电激发光特性测试系统(EL)

发布时间：2025-06-09

  • 设备名称：电激发光特性测试系统(EL)

  • 厂家型号：德测 M2442

  • 工艺类别：测试

  • 主要用途：对GaN晶圆、外延片的性能检测，包括电学参数（如正向电压VF）、光学参数（亮度、波长、半波宽等）的测量，适用于LED生产线的中间质量控制（QC），通过9点分布测量快速评估晶圆均匀性。

  • 技术指标：

1.  2”~ 6”Wafer Leve LED EL特性量测系统，可量测亮度、波长、色座标、半高宽 、电性参数等 

2. 顺向电流最小提供0.1微安的输出 

3. 逆向电压可提供200V的输出

  • 收费标准：200元/小时 (1小时起约)